共晶點(diǎn)、共熔點(diǎn)在凍干中的影響
更新時(shí)間：2017-01-13 點(diǎn)擊次數(shù)：5674
凍干技術(shù)是將含水物料預(yù)先凍結(jié)后在真空狀態(tài)下進(jìn)行升華而獲得干燥物料的方法，干燥后物料原有的化學(xué)、生物特性基本不變，易于長期保存，是一種優(yōu)良的干燥方法，被廣泛應(yīng)用于食品、生物制品、醫(yī)藥、化工、材料制備等各個(gè)領(lǐng)域。
在凍干過程中，物料的共晶點(diǎn)和共熔點(diǎn)是凍干工藝中zui為重要的兩個(gè)參數(shù)。物料預(yù)凍溫度要低于物料共晶點(diǎn)5～10℃．保證物料*凍結(jié)，若預(yù)凍溫度過低，將延長冷凍時(shí)間，增加生產(chǎn)成本，浪費(fèi)時(shí)間和能源；若預(yù)凍溫度高于共晶點(diǎn)，則物料中的水分不能*凍結(jié)，以至于水分不能*以冰的形式升華，干燥過程容易發(fā)生局部沸騰和起泡現(xiàn)象．導(dǎo)致物料發(fā)生收縮和失形等質(zhì)量問題。此外，未凍結(jié)的水分中所包含的溶解溶質(zhì)在干燥過程中不能就地解析，而隨內(nèi)部水分向物料表面遷移，出現(xiàn)凍干制品表面硬化現(xiàn)象。物料的共熔點(diǎn)是指*凍結(jié)的物料逐步升溫，當(dāng)物料內(nèi)部的冰晶開始熔化時(shí)的溫度。升華干燥時(shí)物料溫度不能高于其共熔點(diǎn)，否則物料會融化，導(dǎo)致物料沸騰，在物料內(nèi)部產(chǎn)生氣泡、充氣膨脹或干縮等現(xiàn)象，影響凍干制品的質(zhì)量。故準(zhǔn)確地測定物料的共晶點(diǎn)與共熔點(diǎn)，對凍干工藝方案的制定和凍干過程的優(yōu)化控制具有重要的意義。購買河南兄弟儀器設(shè)備有限公司生產(chǎn)的凍干機(jī)，請?jiān)谑褂们白屑?xì)閱讀操作說明書，或直接我公司技術(shù)人員。
物料共晶點(diǎn)、共熔點(diǎn)的測定方法有電阻法、差示掃描量熱法(DSC)、低溫顯微鏡直接觀察法和數(shù)字公式計(jì)算法。其中，電阻測定法是zui便于實(shí)施．易于推廣的方法。電阻測定法是根據(jù)S．A．Arrhenius(阿侖尼烏斯)電離學(xué)說原理：當(dāng)水中含有雜質(zhì)時(shí)，部分雜質(zhì)就分解成電離子，這時(shí)水是導(dǎo)電的，當(dāng)溫度下降溶液電阻會逐漸增大，當(dāng)溶液全部凝固成固體時(shí)，溶液中離子就*失去自由活動能力，電阻會突然增大，此時(shí)溫度即為共晶點(diǎn)。*凍結(jié)的物料在升溫過程中，其電阻突然減小時(shí)的溫度即為共熔點(diǎn)。因此，在物料降溫或升溫過程中記錄其溫度、電阻的變化數(shù)據(jù)，并對所記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，可獲得物料的共晶點(diǎn)或共熔點(diǎn)。
